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WGL-2 半導體泵浦激光原理實驗裝置適用于大學近代物理教學中非線性光學實驗，本實驗以808nm半導體泵浦Nd：YVO4激光器為研究對象，讓學生自己動手，調整激光器光路。在諧振腔中插入KTP晶體產生5...

WGL-4 氦氖激光器系列實驗儀器介紹通過氦氖激光器的裝調，改變諧振腔的長度，觀察激光模式的變化，來培養學生實驗的動手能力。使用共焦球面掃描干涉儀，讓學生較直觀地觀察橫模和縱模的頻譜分布。測量He-N...

WGL-5 半導體激光器實驗系列儀器介紹通過測量半導體激光器的功率，電壓和電流，讓學生了解半導體激光器在連續輸出下的工作特性。用WGD-6光學多道分析器觀測，半導體激光器注入電流小于閾值時發射的熒光，...

WGL-6 氦氖激光器模式分析實驗裝置在激光器的生產與應用中，我們通常需要先知道激光器的模式狀況，如精密測量、全息技術等工作需要基橫模輸出的激光器，而激光器穩頻和激光測距等不僅要基橫模而且要求單縱模運...

WGL-3 脈沖調Q Nd：YAG倍頻激光器實驗裝置該實驗系統讓學生通過自己動手裝調激光器，掌握激光器的基本結構、主要參數、輸出特性、調整方法、以及調Q、選模、倍頻等。使學生對激光器的原理，激光技術有...

WGL-8晶體電光調制實驗儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應原理的激光振幅調制器的使用，掌握晶體電光調制的原理和實驗方法；學會用簡單的實驗裝置測...

SGD-2 單光子計數實驗系統該實驗系統，由單光子計數器，半導體制冷系統，外光路光學系統，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統采用了脈沖高度甄別計數和數字計數技術，具有較高的線性動態范圍。輸出的數字信號...

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統電子散斑干涉（ESPI）實驗系統借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉技術相結合的一種現代光測技術。激光的高相...

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。實驗內容1、拍攝自由空間散斑和...

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試、距離、速度測試、物體內在缺陷和振動分析...